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全功能X射線顯微鏡

簡(jiǎn)要描述：研究型X射線顯微鏡XROS MF30，使用具有比可見光短的波長(zhǎng)的X射線作為探針，獲得具有高空間分辨率的圖像。此系統(tǒng)也集成光學(xué)顯微鏡，X射線攝影，局部元素XRF微分析，元素mapping等功能。全功能X射線顯微鏡

  • 產(chǎn)品型號(hào)：XROS MF30
  • 廠商性質(zhì)：代理商
  • 更新時(shí)間：2021-06-21
  • 訪  問  量：1943
產(chǎn)品目錄

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詳細(xì)介紹
品牌其他品牌產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域電子/電池軟件高壓發(fā)生器

 全功能X射線顯微鏡

研究型X射線顯微鏡XROS MF30，使用具有比可見光短的波長(zhǎng)的X射線作為探針，獲得具有高空間分辨率的圖像。此系統(tǒng)也集成光學(xué)顯微鏡，X射線攝影，局部元素XRF微分析，元素mapping等功能。全功能X射線顯微鏡

 

全功能X射線顯微鏡特點(diǎn)：

微焦點(diǎn)X射線管

用于X射線波束形成的可變光束尺寸的聚毛細(xì)管透鏡

一組基本的輻射濾波器

攝像機(jī)用于選擇分析區(qū)域

用于分析區(qū)域調(diào)查的光學(xué)數(shù)碼顯微鏡

光學(xué)顯微鏡軸線與x射線探針軸線相結(jié)合

工作距離的自動(dòng)選擇系統(tǒng)

自動(dòng)X、Y坐標(biāo)取樣臺(tái)，用于分析區(qū)域的定位和掃描

分析單元沿Z軸的自動(dòng)移動(dòng)

射線檢查用探測(cè)器

用于局部XRF分析的硅漂移檢測(cè)器

用于分析輕元素的真空測(cè)量室

內(nèi)置的自動(dòng)X光管水冷卻系統(tǒng)

 

 

軟件：

  • 高壓發(fā)生器

  • 采樣和波束定位

  • 真空

 

局部元素分析與元素填圖

  • 用一個(gè)經(jīng)認(rèn)證的樣品進(jìn)行校正

  • 一個(gè)校準(zhǔn)曲線與幾個(gè)認(rèn)證的樣品

  • 特征線能量和強(qiáng)度的測(cè)定

  • 定性半定量分析(基本參數(shù)法)

  • 從光譜庫中尋找類似物進(jìn)行光譜比較

  • 用戶定義樣例區(qū)域的元素映射mapping

  • 光譜和映射結(jié)果存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)文件

  • 對(duì)存儲(chǔ)的光譜進(jìn)行比較，減法，歸一化

  • 在光學(xué)和射線圖像上疊加光譜映射圖像結(jié)果

  • 自動(dòng)分析在用戶定義的點(diǎn)的樣本

 

X射線攝影

  • 數(shù)字亮度和對(duì)比度控制

  • 縮放

  • 測(cè)量圖像點(diǎn)間的距離

 

記錄和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

  • 在數(shù)據(jù)庫中存儲(chǔ)圖像

  • 保存測(cè)量結(jié)果并導(dǎo)出到其他Windows程序

  • 數(shù)字化圖像記錄到外部媒體

  • 圖像和協(xié)議打印

  1.  一組可更換輻射濾光片(12個(gè))

  2. X射線管

  3. 內(nèi)置水冷系統(tǒng)

  4. 硅漂移探測(cè)器

  5. 回看攝像機(jī)

  6. 光學(xué)顯微鏡軸與微探針軸結(jié)合(銳度自動(dòng)調(diào)節(jié))

  7. 光學(xué)顯微鏡(手動(dòng)調(diào)整銳度)

  8. 樣品臺(tái)(XY位移，精度10um)

束源

微焦點(diǎn)X射線管: 

  • X射線管zui大電壓

45 kV

  • X射線管zui大功率

500 W

  • 陽極材料

Mo, other by request

用于X射線波束形成的可變光束尺寸的聚毛細(xì)管透鏡

  • X射線光束直徑

 

30 - 1 000 μm

一組基本的光束濾波器

Zr, Ti, Mo, Ag, Al, Cu, Cl

 

光學(xué)研究

光學(xué)數(shù)字顯微鏡：

  • 大變焦

 

200х

 

樣品定位和mapping

用攝像機(jī)選擇分析區(qū)域

光學(xué)顯微鏡結(jié)合X射線探頭的軸線來控制分析區(qū)域

樣品和探針移動(dòng)系統(tǒng)： 

  • 工作距離自動(dòng)選擇系統(tǒng)

  • 分析單元沿Z軸移動(dòng)

Z軸定位精度12 μm

  • 一個(gè)自動(dòng)階段的XY對(duì)象定位和掃描在一個(gè)用戶定義的樣本區(qū)域XY定位精度


10 μm

  • zui大掃描區(qū)域

150x150 mm

  • zui大樣品尺寸

300х210х100 mm

  • zui大樣品重量

1 kg

 

X射線熒光分析

局部元素分析用能量色散半導(dǎo)體探測(cè)器

  • 硅漂移探測(cè)器 (SDD)

 

  • 在Mn線Kα上的探測(cè)器的能量分辨率

<150 eV

  • 光譜范圍

1 - 40 keV

  • zui大計(jì)數(shù)率

1 000 000 cps

  • 濃度范圍

from 1 ppm to 100%

 

 X射線攝影
 用于射線照相研究的通過樣本輻射傳輸?shù)狞c(diǎn)探測(cè)器(可選ccd探測(cè)器)

 

分析單元

電源 

230 V, 50 Hz

Size (W x D x H)

615 x 665 x 650 mm

Weight

85 kg

 

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